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思看TrackScan-P42跟踪式三维扫描系统
发布时间：2020.04.09 阅读量：472
- 所属分类：三维扫描仪
- 品牌：思看SCANTECH
- 型号：TrackScan-P42
- 发布日期：2020/04/09
产品描述
TrackScan-P22跟踪式三维扫描系统
TrackScan跟踪式三维扫描系统，无需贴点即可进行高精度三维扫描。结合了红蓝双色激光扫描技术和灵活高效的接触式光笔测量功能，可快速、准确地采集物体整体尺寸和关键部位的高精度三维数据。
基本参数
型号：TrackScan-P22
扫描模式：R标准扫描模式/B超精细扫描模式
光源形式：14束交叉+1束红色激光线/7束平行蓝色激光
深孔扫描：支持
精细扫描：支持
精度：0.030mm
扫描速率：480,000次测量/秒
最大扫描面幅：275mm×250mm
激光类别 ClassⅡ（人眼安全）
分辨率：0.050mm / 0.020mm
体积精度(单独使用扫描仪)9.1m3：0.064mm
体积精度(单独使用扫描仪)16.6m3：0.078mm体积精度(配合MSCAN全局摄影测量系统)：0.044mm+0.025mm/m
T-Probe便携式三坐标测量笔单点重复性：0.030mm
扫描物体尺寸范围（建议）：200~6000mm
基准距：300mm
景深：200mm
输出格式 ：.stl, .ply, .obj, .igs, wrl, .xyz, .dae, .fbx, .ma, .asc等，可定制
工作温度：5~40°C
接口方式：USB 3.0
专利技术：CN106500627，CN106500628，CN206132003U，CN204854633U，CN204944431U，CN204902788U，CN105068384，CN105049664，CN204963812U，CN204902785U，CN106403845，US10309770B2
TrackScan拥有思看首创的红蓝双色激光专利技术，红光模式高效灵活，蓝光模式0.020mm超高分辨率，可轻松捕捉物体极致细节。同时T-Probe便携式三坐标测量笔，可满足基准孔、隐藏点、特征等关键部位的测量需求。
TrackScan可应用于质量控制、产品开发、逆向工程等多个方面，还可以提供开发接口，与机器人协同工作，实现在线三维测量。
无需贴点
基于反光标记点跟踪技术，TrackScan扫描无需贴点，大大提高了工作效率。
支持接触式测量
T-Probe灵活性极强，测量范围广，单点重复性0.030mm，用于接触测量基准孔、隐藏点、特征等关键部位。
双色激光
红光扫描模式高效灵活，蓝光扫描模式0.020mm超高分辨率，轻松获取物体极致细节。
支持光学跟踪和标记点跟踪两种模式，根据现场情况灵活切换。
动态参考
利用动态参考功能，TrackScan能在物体自由移动过程中正常工作，精准获取物体完整外形三维数据。
测量范围自由扩展
通过调整E-Track的位置，可对测量范围自由灵活地扩展，且始终保持稳定的高精度。
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