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JENOPTIK业纳T8000轮廓仪的应用优势和特点
时间：2021-11-02 浏览量：917
JENOPTIK业纳测量仪可用于测量工件的粗糙度或轮廓。我们既提供在单独的测量运行中进行测量的型号，也提供在单个探测步骤中进行测量的型号
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业纳Jenoptik粗糙度轮廓仪W900系列的功能特点
时间：2021-10-21 浏览量：935
Jenoptik德国业纳Hommel粗糙度仪轮廓仪W900测量系统配有快速测量轴,即使遇到复杂的测量任务,也能保证快速的测量速度,因此能满足客户极高的要求
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Jenoptik业纳l轴类光学机OpticlineC1214参数特点
时间：2021-10-14 浏览量：701
德国业纳Jenoptik集团轴类件光学测量系统Opticline 系统提供多项智能自动监测功能,以便持续执行质量。此外,这些系统在质量参数的可追溯性和记录方面树立了新标准。
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业纳Jenoptik 轴类光学测量机的优点及应用领域
时间：2021-10-12 浏览量：729
业纳Jenoptik 已开发出新一代的光学测量系统，使生产过程中的质量控制更加容易。多年来，Opticline 系列测量系统在光学轴测量技术上树立了标杆
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业纳 JENOPTIK 轴类光学测量机 C1000 系列的特点
时间：2021-09-30 浏览量：671
OPTICLINE 测量技术采用光电阴影成象原理全自动探测需测量的工件。由于单个测量值的测量分辨率高，所以整个工件轮廓的分析速度快，精度高。
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JENOPTIK业纳激光测距仪显微照相机激光设备的特点
时间：2021-09-22 浏览量：658
业纳的JENOPTIK GRYPHAX?和ProgRes?系列显微镜照相机可输出低噪声的清晰图像。得益于所使用的先进的CMOS传感器，JENOPTIK GRYPHAX?相机还可以以视频速度输出优质的实时图像。
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业纳JENOPTIK 轴类件光学测量机Opticline C系列介绍
时间：2021-09-07 浏览量：864
业纳的高精密测量系统用于安全可靠地进行光学轴测量。这些系统非常适合用于制造环境，可确保达到最佳的质量控制效果。这些仪器非常坚固耐用，除了用于测量室外，还非常适合用于工业环境。
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业纳 jenoptik 移动式测量仪 Waveline W10 无线测量工件
时间：2021-08-31 浏览量：705
借助移动式 Waveline W10 测量仪，您可以用无线方式测量工件，清晰的测量结果始终显示在宽大的触摸屏上。业纳jenoptik Waveline W10 测量仪：适用于横向探测、架空位置和垂直位置的移动式粗糙度测量。
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业纳JENOPTIK 三维测量仪FLEX-3A 有哪些功能特点？
时间：2021-08-27 浏览量：709
业纳JENOPTIK 三维测量仪FLEX-3A是世界上顶尖的全自动三维测量机，配有三个摄像头和一台投影仪，结构光投影方法可用于小型零件，无需标记目标。它彻底改变了小型金属，塑料或玻璃组件的快速和高精度3D数字化和检测
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业纳Jenoptik 粗糙度轮廓仪Waveline W800性能特点
时间：2021-08-25 浏览量：947
今天鸿华小编要给大家介绍的是全新一代高度模块化粗糙度轮廓仪Waveline W800。工业生产过程中对测量精度的要求迥然各异，你可以根据具体的测量要求选择W800/W900 系统进行测
